超高精度激光熱膨脹儀 SuperLIX的特點分析

發(fā)布日期：2023-11-16      瀏覽次數(shù)：1352

超高精度激光熱膨脹儀 SuperLIX的特點分析

該裝置是一種高靈敏度熱膨脹儀，采用使用線偏振氦氖激光器的雙路邁克爾遜干涉儀，并具有內(nèi)置隔振機構(gòu)，可防止振動擾動的影響。因此，在能夠穩(wěn)定使用一般分析電子天平(分辨率0.01mg)的環(huán)境下，能夠以1×10-8/K以下的精度測定熱膨脹系數(shù)。它還可用于低膨脹系數(shù)材料的熱膨脹系數(shù)的絕對測量，為材料開發(fā)和生產(chǎn)線的質(zhì)量控制提供支持。

采用雙路邁克爾遜激光干涉技術(shù)的LIX系列熱膨脹儀是業(yè)內(nèi)可以測量熱膨脹系數(shù)絕對值的商用型號。
該測量方法符合低膨脹玻璃熱膨脹系數(shù)的測量方法JIS（JIS R3251-1990）。

用途

• 10-8/K 低膨脹數(shù)材料（玻璃、陶瓷、金屬等）高精度膨脹測量
  - 半固態(tài)生產(chǎn)設(shè)備 光學曝光測量
  - 測量精密平臺零位
  - 航天研究對材料的高精度需求量
  - 高精度光學基板建設(shè)數(shù)量

• 低膨脹數(shù)材料質(zhì)量控制

• 標準熱膨脹設(shè)備數(shù)量

特征

• 一般來說，有全面的振動消除機構(gòu)，可以防止機芯的移動，可以在分析環(huán)境中使用正常的電子天平（0.01英寸分離率）移動量。（日本特殊要求2016-058190、058191、058192）

• 通過光波長（632.8 nm）測量的相移量。綜合光學元件可以去除和散射光，信號的可信度有高有低。要求不高的特殊倉位調(diào)準量求和操作。

• 在傳輸圖像的過程中，可以計算傳輸（擴展/消耗）量，并檢查擴展系統(tǒng)的數(shù)量。

標準

符合JIS R3251-1990標準
2016-058190、058191、058192

規(guī)格

模型	超級LIX-R
溫度范圍	標準溫度：0-50℃（高精度恒溫循環(huán)系統(tǒng)）
標準尺寸	φ5方5±0.5毫米×12-20毫米長 （標準標準品尺寸5×20mmL，端面R加工標準品）
調(diào)查金額	低壓He氣氛
稱重方法	雙光路經(jīng)過強光干燥系統(tǒng)。

實際程序

占卜之地	約1200mm（寬）x 760mm（深）x 1600mm（高） *超出挖掘室需求2500mm（高）
所需電源	PC（指示燈、機身）：2個AC100V 15A（座椅、地面） 排風系統(tǒng)：AC200V 3相15A 1個 局部 空氣系統(tǒng)引入系統(tǒng)：1個AC 100V單相15A 恒溫水循環(huán)器：1個AC 100V 15A（座椅，接地）接地）
需要接地	1個D型（接地電壓100m以下）

調(diào)查金額示例


低膨脹陶瓷示例

金屬（超環(huán)保瓷磚）測量量示例