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在鋰電隔膜和光學膜等高技術薄膜制造領域，厚度及其均勻性直接決定產(chǎn)品的核心性能與最終良率。
鋰電隔膜：厚度的微小偏差會影響離子導通性、機械強度和電池的一致性，甚至引發(fā)安全隱患。均勻的厚度是保障電池能量密度、循環(huán)壽命和安全性的基石。
光學膜（如增亮膜、擴散膜、偏光片）：厚度均勻性是影響光學性能（如亮度、霧度、均勻性）的關鍵。任何瑕疵都會在終端顯示屏上形成缺陷（如牛頓環(huán)、亮暗點），造成巨大損失。
傳統(tǒng)接觸式測量或抽樣檢測方式已無法滿足：
易造成損傷：接觸式測頭會劃傷隔膜和光學膜嬌貴的表面。
測量滯后：離線抽樣無法實現(xiàn)100%全檢，發(fā)現(xiàn)問題時為時已晚，造成大量廢品。
數(shù)據(jù)不全面：無法提供全幅寬、連續(xù)不斷的厚度剖面數(shù)據(jù)，難以進行精準的工藝優(yōu)化。
日本富士ワーク（Fujiwork）FT-D200激光連續(xù)測厚儀，正是為解決這些行業(yè)痛點而生的解決方案。
絕對的非接觸測量，實現(xiàn)“零損傷"
采用先進的激光掃描原理，測量頭與被測膜材不發(fā)生任何物理接觸，杜絕了因測量而對高價值膜表面造成的劃傷、壓痕等次生傷害，保護產(chǎn)品價值。
精度，捕捉每一個微小變化
FT-D200擁有±0.1μm級的超高測量精度和分辨率，能夠清晰捕捉鋰電隔膜或光學膜生產(chǎn)中微米級甚至亞微米級的厚度波動，為工藝調(diào)整提供最準確的數(shù)據(jù)基礎。
高速全線掃描，100%質(zhì)量監(jiān)控
激光束每秒進行數(shù)千次高速掃描，可對膜材的整個幅寬進行無縫式、連續(xù)不斷的測量，生成完整的橫向厚度曲線（CD Profile）和縱向厚度曲線（MD Profile），實現(xiàn)真正的全線質(zhì)量監(jiān)控，無遺漏。
提升產(chǎn)品一致性，打造高品牌
通過實時監(jiān)控與反饋，確保每一平方米的膜材厚度都嚴格控制在公差范圍內(nèi)，極大提升產(chǎn)品整體一致性和可靠性，增強客戶信任度，打造高市場口碑。
顯著降本增效，節(jié)約原材料
精準控制：通過對厚度趨勢的實時分析，可以及時調(diào)整模頭螺栓、溫度等工藝參數(shù)，將平均厚度穩(wěn)定控制在目標值下限附近，在保證質(zhì)量的前提下，有效減少原料消耗。
減少廢品：實時報警功能能在瑕疵品大量產(chǎn)生前即刻發(fā)現(xiàn)異常，指導操作人員快速干預，大幅降低廢品率和返工成本。
工藝優(yōu)化與數(shù)據(jù)追溯，驅(qū)動智能制造
強大的數(shù)據(jù)分析軟件提供CP/CPK等統(tǒng)計指標，量化生產(chǎn)過程能力，為持續(xù)工藝改進提供科學依據(jù)。
**全面的數(shù)據(jù)記錄與追溯**功能，可將厚度數(shù)據(jù)與生產(chǎn)批次、時間一一對應，便于質(zhì)量追溯和問題根源分析。
為實現(xiàn)閉環(huán)自動控制（APC）奠定基礎
FT-D200可開放通信接口，與擠出機、模唇、拉伸設備等聯(lián)動，根據(jù)實時厚度數(shù)據(jù)自動調(diào)整工藝參數(shù)，構(gòu)建全自動厚度控制系統(tǒng)（APC），減少人為誤差，邁向“無人化"智能生產(chǎn)。
在鋰電隔膜產(chǎn)線上：FT-D200安裝在縱向拉伸（MDO）或橫向拉伸（TDO）之后，對濕法或干法隔膜的基膜和涂層后的成品膜進行100%在線監(jiān)測，確保其厚度均勻性滿足電池客戶的要求。
在光學膜產(chǎn)線上：安裝在擠出流延或涂布固化之后，實時監(jiān)測光學基材和功能涂層的厚度，防止因厚度不均導致的光學缺陷，是生產(chǎn)高品質(zhì)顯示組件不可少的“火眼金睛"。
對于鋰電隔膜和光學膜這類“失之毫厘，謬以千里"的高精尖行業(yè)，對生產(chǎn)過程中每一個環(huán)節(jié)的精確控制都至關重要。Fujiwork FT-D200高精度連續(xù)測厚儀不僅僅是一臺測量儀器，更是一個強大的過程質(zhì)量控制與優(yōu)化平臺。
它幫助企業(yè)從“事后檢驗"轉(zhuǎn)向“事前預防"，從“經(jīng)驗驅(qū)動"轉(zhuǎn)向“數(shù)據(jù)驅(qū)動"，最終實現(xiàn)更高的產(chǎn)品質(zhì)量、更低的生產(chǎn)成本和更強的市場競爭力。選擇FT-D200，就是為您的膜材生產(chǎn)線裝備上可靠的質(zhì)量守護神。
