軟膜和薄膜用臺式離線電容式測厚儀TOF-C2

發(fā)布日期：2021-09-26      瀏覽次數(shù)：1545

軟膜和薄膜用臺式離線電容式測厚儀TOF-C2



模型	TOF-C2 * TOF-C的后繼機型
測量方法	非接觸式/電容式
測量對象	薄膜、粘性保護膜、易沾灰塵的薄膜
測量原理	電容式

產(chǎn)品特點

• 高測量分辨率

• 由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。

• 即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。

• 基重測量

• 操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）

產(chǎn)品規(guī)格

測量厚度	~ 500 微米
測量長度	10 至 10000 毫米
測量間距	1 毫米 ~
小顯示值	0.01微米
電源電壓	AC100V 50 / 60Hz
工作溫度限制	5-40°C（測量時溫度變化1°C以內(nèi)）
濕度	35-80%（無冷凝）