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FUNATECH顯示器劃痕目視檢查燈FY-18 外觀因技能水平和個體差異而異。首先，有必要創(chuàng)造一個易于看到的環(huán)境。通過更好的“可視化”，可以抑制人為的工作變化，縮短目視檢查的工作時間，有效防止不良品流出。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1498
FUNATECH半導(dǎo)體零件目視檢查燈FY-18 無極燈
FUNATECH半導(dǎo)體零件目視檢查燈FY-18 外觀因技能水平和個體差異而異。首先，有必要創(chuàng)造一個易于看到的環(huán)境。通過更好的“可視化”，可以抑制人為的工作變化，縮短目視檢查的工作時間，有效防止不良品流出。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1471
tokina圖麗鹵素?zé)艄鈱?dǎo)光源KTX-100ES 光學(xué)測量儀
tokina圖麗鹵素?zé)艄鈱?dǎo)光源KTX-100ES ?符合RoHS指令 ?AC100~220V???全球支持 ?控制端子：兼容D-sub連接器 ?內(nèi)置快門功能
更新日期：2024-03-24 訪問量：1327
tokina圖麗鹵素?zé)艄饫w光源KTX-100ES 光學(xué)測量儀
tokina圖麗鹵素?zé)艄饫w光源KTX-100ES ?符合RoHS指令 ?AC100~220V???全球支持 ?控制端子：兼容D-sub連接器 ?內(nèi)置快門功能
更新日期：2024-03-24 訪問量：1292
tokina圖麗鹵素?zé)艄庠碖TX-100ES 光學(xué)測量儀
tokina圖麗鹵素?zé)艄庠碖TX-100ES ?符合RoHS指令 ?AC100~220V???全球支持 ?控制端子：兼容D-sub連接器 ?內(nèi)置快門功能
更新日期：2024-03-24 訪問量：1156
tokina圖麗LED光導(dǎo)光源KTL-400 光學(xué)測量儀
tokina圖麗LED光導(dǎo)光源KTL-400 光學(xué)測量儀 達(dá)到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比） ●壽命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此無需更換燈泡，大大降低了運(yùn)行成本。 ●外部遙控器的ON / OFF響應(yīng)速度約為10μs ●可以安裝波長選擇濾光片。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1245
tokina圖麗LED光纖光源KTL-400 光學(xué)測量儀
tokina圖麗LED光纖光源KTL-400 光學(xué)測量儀 達(dá)到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比） ●壽命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此無需更換燈泡，大大降低了運(yùn)行成本。 ●外部遙控器的ON / OFF響應(yīng)速度約為10μs ●可以安裝波長選擇濾光片。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1270
tokina圖麗LED光源KTL-400 光學(xué)測量儀
tokina圖麗LED光源KTL-400 達(dá)到傳統(tǒng)KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比） ●壽命是Metahara的15倍。 ●功耗是Metahara的1/3。 ●由于是LED，因此無需更換燈泡，大大降低了運(yùn)行成本。 ●外部遙控器的ON / OFF響應(yīng)速度約為10μs ●可以安裝波長選擇濾光片。
更新日期：2024-03-24 訪問量：1269
YP-250I電子元器件用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1733
YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測用表面檢查燈 光學(xué)測量儀
YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：2434
YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈 光學(xué)測量儀
YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1612
YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈 光學(xué)測量儀
YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1647
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 光學(xué)測量儀
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1701
YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1660
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測量儀
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：1692
