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日本MIC超高精度、超精密電阻檢測(cè)AE-163D 非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級(jí)、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1526
AE-162L兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測(cè)器
日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測(cè)器AE-162L D、F、G、J、K級(jí)超小尖頭（0201、03015）兼容編帶機(jī) 0201、03015尺寸超小型芯片兼容（測(cè)量功率0.02W以下/測(cè)量端子開(kāi)路電壓9V以下）
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1403
日本MIC超高速芯片電阻檢測(cè)儀AE-162E 由于模數(shù)隔離提高了抗噪性，因此穩(wěn)定性高 兼容極小的芯片（低功耗測(cè)量） 超高速 0.7msec.（代表值）
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1435
日本MIC超高速芯片電阻檢測(cè)儀AE-162D 適用于 D、F、G、J、K 級(jí)、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1496
日本imt獨(dú)立負(fù)載型自動(dòng)拋光機(jī) Rana-3
日本imt獨(dú)立負(fù)載型自動(dòng)拋光機(jī) Rana-3 Rana-3采用單獨(dú)加載方式，可自由設(shè)置1-6個(gè)樣品。 由于可以改變支架的轉(zhuǎn)數(shù)，所以可以在相同的轉(zhuǎn)數(shù)下對(duì)支架和盤(pán)進(jìn)行拋光，并且拋光表面不會(huì)傾斜或變成鉛筆狀。 支架和圓盤(pán)都可以向前和向后旋轉(zhuǎn)。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1773
日本imt滾筒式樣品拋光機(jī)SP-As1 / As2 用于安裝拋光機(jī) IM-P2 的滾筒式樣品旋轉(zhuǎn)機(jī)。 拋光非嵌入樣品時(shí)，可將SP-As1連接到拋光機(jī)IM-P2上，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)拋光。 非常適合長(zhǎng)時(shí)間低速包裹的樣品。 也可提供與樣品匹配的定制支架。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1943
日本imt實(shí)驗(yàn)拋光機(jī)組合IM-P2+SP-L1
日本imt實(shí)驗(yàn)拋光機(jī)組合IM-P2+SP-L1 用于安裝拋光機(jī) IM-P2 的樣品旋轉(zhuǎn)機(jī)。 拋光嵌入樣品時(shí)，將 SP-L1 連接到拋光機(jī) IM-P2 以啟用自動(dòng)拋光。 由于可以改變磁頭轉(zhuǎn)速，因此可以以相同的轉(zhuǎn)速對(duì)支架和光盤(pán)進(jìn)行拋光，防止拋光表面傾斜或變成鉛筆狀，并且可以在不失去平行度的情況下進(jìn)行研磨。
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1686
日本imt臺(tái)式樣品拋光機(jī) IM-P2 IM-P2是一款于手工拋光的拋光設(shè)備。通過(guò)改裝樣品旋轉(zhuǎn)機(jī)也可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。 工作臺(tái)高度便于更換圓盤(pán)并用手拋光。 搭載了即使在高轉(zhuǎn)速和低速范圍內(nèi)也能產(chǎn)生強(qiáng)大扭矩的電機(jī)！
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1752
低價(jià)納米粒子生產(chǎn)設(shè)備 制粒設(shè)備
低價(jià)納米粒子生產(chǎn)設(shè)備 直流電弧電源300A，濾波器-1 片RP GHP-150與OMT，循環(huán)泵100L /分鐘 皮拉尼真空計(jì)（PT-4P），安全閥 水冷電極（與W碼片），納米顆粒熱交換器
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：2607
超細(xì)粒子/納米粒子制造設(shè)備 超細(xì)粒子/納米粒子制造裝置的目的是通過(guò)在氫氣（與氬氣混合）或氮?dú)獾葰怏w氣氛中通過(guò)電弧熔化來(lái)強(qiáng)制蒸發(fā)材料以制造超細(xì)粒子/納米粒子。它被開(kāi)發(fā)出來(lái)。超細(xì)顆粒和納米顆粒的目標(biāo)材料范圍很廣，包括各種金屬、合金和陶瓷。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：2552
Arasamir零件噴嘴內(nèi)表面無(wú)損測(cè)量?jī)x
日本futaku零件噴嘴內(nèi)表面無(wú)損測(cè)量?jī)xArasamir 對(duì)于醫(yī)療用分配噴嘴，如果用于預(yù)測(cè)試的樣品保留在噴嘴內(nèi)，則測(cè)試值將波動(dòng)，并且無(wú)法進(jìn)行準(zhǔn)確的樣品分析。 分配噴嘴所需的質(zhì)量是在內(nèi)表面沒(méi)有劃痕或不規(guī)則且沒(méi)有殘留物附著的噴嘴。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1954
Clavelle Elephant精細(xì)零件無(wú)損探傷設(shè)備
日本futaku精細(xì)零件無(wú)損探傷設(shè)備Clavelle Elephant 由于自動(dòng)檢查了放置在通用零件托盤(pán)上的微小零件的100，大大減輕了區(qū)分目視檢查的負(fù)擔(dān)，并提高了檢查工作的效率，并且提高了鑒別精度并使其穩(wěn)定。 它是緊湊型臺(tái)式機(jī)，是各種小批量零件鑒別檢查的理想選擇。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：2074
日本napson手持式探針的電阻測(cè)量?jī)xEC-80P 使用手持式探針的手動(dòng)無(wú)損（渦流法）電阻測(cè)量?jī)x
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1664
日本電子技研激光多普勒振動(dòng)計(jì)V100系列
日本電子技研激光多普勒振動(dòng)計(jì)V100系列 型號(hào)名稱(chēng)V100-LMV100-MSV100-S 測(cè)量頻率范圍0.5Hz-300kHz的 速度測(cè)量范圍3μm/ s至10 m / s0.05μm/ s至1 m / s0.05μm/ s至0.1 m / s
更新日期：2024-03-20 訪問(wèn)量：1749
日本port AI敲擊聲音檢查器PDC-100A 從麥克風(fēng)捕獲要檢查的錘子的敲擊聲，并使用主體內(nèi)部的機(jī)器學(xué)習(xí)功能來(lái)確定混凝土結(jié)構(gòu)內(nèi)部是否浮空或剝落。
更新日期：2025-05-02 訪問(wèn)量：1697
