日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列

使用軟X射線（軟X射線）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
　通常，為了測量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段，但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度，從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。
　另一方面，在諸如X射線厚度計之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中，測量了空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但是由于樣品引起的衰減很大。比空氣的厚度大，運輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化，并且影響很小。因此，可以高精度地進行測量。

軟X射線測厚儀的一般功能

1. 無需任命放射線處理負責人或X射線工作負責人，也無需設(shè)置受控區(qū)域
   （需要通知勞gong標準檢查辦公室）
2. 路徑錯誤可以忽略
3. 高元素依賴性

與傳統(tǒng)的軟X射線測厚儀相比，我們的軟X射線測厚儀的功能

1. 檢測單元和X射線源單元結(jié)構(gòu)緊湊，重量輕，甚至可以安裝在狹窄的地方。
2. 測量范圍廣（材料/厚度）

采用

• 銅箔，鋁箔，不銹鋼箔
• 電池電極
• 陶瓷（薄板，薄餅）
• 玻璃纖維布

日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列