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日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP

訪問次數(shù)：1492

更新日期：2025-05-02

簡要描述：

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP
切割樣品表面缺陷的評估和檢查
可以通過分辨率為 15 μm 的缺陷圖輕松校準和驗證。

類型	無損傷

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP

切割樣品表面缺陷的評估和檢查
可以通過分辨率為 15 μm 的缺陷圖輕松校準和驗證。

應用/功能

它可以作為離線表面缺陷校準的專家設(shè)備，這是質(zhì)量評估*的
。

設(shè)備配置

該設(shè)備是用戶安裝和連接的設(shè)備。
只需將檢測裝置和PC本體安裝在水平工作臺上，用兩條電纜連接檢測裝置和PC
本體即可完成安裝。

排隊

根據(jù)泛光燈的配置，ALTIS 分為三種類型。
請根據(jù)檢測對象和檢測缺陷進行選擇，并在購買時注明。

* ALTIS-P 可以定制為魚眼檢測模型作為選項。

各種畫面

檢查畫面



		掃描切割樣品以檢測缺陷。您可以在下面的四個屏幕上查看測試結(jié)果。

信息管理畫面（結(jié)果數(shù)據(jù)一覽）



		您可以使用與檢查相同的屏幕配置來檢查過去執(zhí)行的檢查的數(shù)據(jù)。您可以從過去的檢查結(jié)果中選擇任何數(shù)據(jù)，并將其以 CSV 格式保存到 USB 存儲器中。

	信息管理畫面（檢測圖顯示/原始圖像顯示/缺陷列表顯示/檢測圖像列表顯示）

	您可以在與測試時相同的四個屏幕上查看過去的測試結(jié)果。

濃度測量畫面



		您可以調(diào)出有缺陷圖像的濃度測量屏幕。在密度測量屏幕上，您可以分析缺陷的等級和大小。

檢查條件設(shè)定畫面



		多可以注冊100個品種。可以為每種產(chǎn)品類型注冊各種設(shè)置，例如檢測靈敏度和尺寸。在檢查開始時，只需選擇注冊品種即可設(shè)置適當?shù)臋z查條件。

波形監(jiān)視器



		可以使用波形監(jiān)視器功能調(diào)整探測器（相機/泛光燈）。

* 設(shè)備啟動時，每個屏幕上顯示的語言可以從日語、韓語和英語中選擇。

日本asahi表面缺陷評估裝置ALTIS-RP

規(guī)格


解析度	寬度方向 15 μm × 長度方向 15 μm
相機	CCD線陣傳感器相機（單色）10680像素/80MHz
泛光燈	LED 線狀照明（可從以下選擇）、ALTIS-RP（反射/透射）、ALTIS-R（反射）、ALTIS-P（透射）
樣本量	尺寸：210mm x 297mm（A4 尺寸）厚度：0.05mm ~ 1.0mm
檢測判斷	明/暗漸變，寬度/長度/面積
移動速度	工作臺移動速度 6 m/min。
檢查時間	約 15 秒（每張）
檢查范圍	拍攝范圍：160 mm x 230 mm (10680 pix. X 15333 pix.) 測量范圍：150 mm x 220 mm (10000 pix. X 14667 pix.) 圖像文件存儲容量：386 MB 圖像文件存儲容量：多800張
電源	AC100-220V 50 / 60Hz
擴展總線：	PCI、PCI-Express (x4)
硬盤容量：	500GB