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更新日期：2024-03-22
簡要描述：
日本千野chino輻射溫度計IR-CZ系列IR-CZ 系列是一款一體式固定式輻射溫度計，配備數(shù)字溫度顯示和測量值的外部輸出。
| 類型 | 其他 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|
日本千野chino輻射溫度計IR-CZ系列
IR-CZ 系列是一款一體式固定式輻射溫度計，配備數(shù)字溫度顯示和測量值的外部輸出。
通過追蹤金屬-碳共晶固定點實現(xiàn)高溫范圍內(nèi)的高精度
單色型也可從 500°C 開始測量。
提高高溫連續(xù)測量的穩(wěn)定性和低溫范圍的分辨率
| 模型 | 測量范圍 | 格式 |
|---|---|---|
| 用于低溫和高速 | 0 至 500°C | IR-捷克首都機(jī)場 |
| 低溫到中溫 | 150-1400℃ | IR-CZP2N |
| 介質(zhì)溫度 | 300-1600℃ | IR-CZI2N |
| 用于高溫 | 600-3000℃ | IR-CZS2N |
| 高溫高精度型 | 900-3500℃ | IR-CZH7N |
| 高機(jī)能型 | 400-2000℃ | 紅外-CZQ2N |
| 模型 | 用于低溫和高速 | 低溫到中溫 | 介質(zhì)溫度 | 用于高溫 |
|---|---|---|---|---|
| 格式 | IR-捷克克朗 | 紅外CZP | 紅外CZI | IR-CZS |
| 測量波長 | 3-5.5μm | 2微米 | 1.55 微米 | 0.9 微米 |
| 檢測元件 | 銻化銦 | InGaAs | InGaAs | 硅 |
| 準(zhǔn)確率評估 | 低于 50°C…±5°C 高于 50°C…±3°C | 低于 500°C：±3°C 介于 500°C 和 1000°C 之間：±5°C 高于 1000°C：測量值的 ±0.5% | 低于 1000°C：±5°C 介于 1000°C 和低于 1500°C 之間：測量值的±0.5% 高于 1500°C：測量值的±0.6% | 1000°C以下…±5°C 1000°C以上1500°C以下…測量值的±0.5% 1500°C以上2500°C以下…測量值的±0.6% 2500° C以上…測量值的±1% |
| 響應(yīng)時間 | 1 ms（在 50°C 或更高溫度下測量時） | 3毫秒 | ||
| 距離因素 | φ20/1000mm φ10/500mm φ4/200mm | 50, 200, 300 | ||
| 瞄準(zhǔn)方法 | 激光投影 | 直接取景器或激光投影（可選） | ||
| 模擬輸出 | 4～20mA DC隔離輸出 負(fù)載電阻：750Ω以下 | |||
| 通訊接口 | RS-485測量數(shù)據(jù)傳輸，各種參數(shù)的發(fā)送和接收 | |||
| 電源 | 24V DC（允許電壓變動范圍：22～28V） | |||
| 能量消耗 | 最大 3.3VA | |||
| 連接方式 | 專用連接器或端子連接 | |||
| 模型 | 高溫高精度型 | 高機(jī)能型 |
|---|---|---|
| 格式 | IR-CZH7 | IR-CZQ2 |
| 測量波長 | 0.9/1.55μm | 0.9/1.35/1.55μm |
| 檢測元件 | Si/InGaAs | 硅/InGaAs/InGaAs |
| 準(zhǔn)確率評估 | 1500°C以下…±5°C 1000°C以上1500°C以下…測量值的±0.5% 1500°C以上2500°C以下…測量值的±0.6% 2500° C以上…測量值的±1.0% | 低于 1000°C：±5°C 介于 1000°C 和低于 1500°C 之間：測量值的±0.5% 高于 1500°C：測量值的±0.6% |
| 響應(yīng)時間 | 2至15毫秒 | |
| 距離因素 | 200 帶 φ10mm 視場光闌 | 200 |
| 瞄準(zhǔn)方法 | 直接取景器 | |
| 模擬輸出 | 4～20mA DC隔離輸出 負(fù)載電阻：750Ω以下 | |
| 通訊接口 | RS-485測量數(shù)據(jù)傳輸，各種參數(shù)的發(fā)送和接收 | |
| 電源 | 24V DC（允許電壓變動范圍：22～28V） | |
| 能量消耗 | 最大 2.4VA | |
| 連接方式 | 專用連接器或端子連接 | |
