ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1

訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：1479

更新日期：2024-05-21

簡(jiǎn)要描述：

ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測(cè)可見(jiàn)光（波長(zhǎng)400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測(cè)設(shè)備。

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	類(lèi)型	無(wú)損傷
產(chǎn)地	進(jìn)口

ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1

"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測(cè)可見(jiàn)光（波長(zhǎng)400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測(cè)設(shè)備。通過(guò)本設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無(wú)法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。

ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1

產(chǎn)品特征

產(chǎn)品特長(zhǎng)	高速測(cè)量（6" 襯底　90秒） ?可以最快速度簡(jiǎn)捷方式觀察殘留應(yīng)力分布。縱向結(jié)晶評(píng)價(jià) ?因?yàn)槭峭敢曅徒Y(jié)晶評(píng)價(jià)裝置，所以不只可以觀察襯底表面，還可以觀察包括Z軸方向的晶圓所有部位。可取得與X-Ray Topography imaging comparison同等測(cè)試效果 ?可以取得同等測(cè)試效果，實(shí)現(xiàn)高速低成本。價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)力 ?在晶片測(cè)量裝置中，屬于性?xún)r(jià)比好的一款系統(tǒng)。
可測(cè)量材料	SiC單晶襯底、及SiC外延襯底 GaN單晶襯底、及GaN外延襯底 AlN單晶襯底、及AlN外延襯底可視光可透視、有雙折射效果的結(jié)晶均可。
測(cè)試效果不佳材料	?無(wú)可視光透視性材料：Si、GaAs等 ?無(wú)雙折射效果材料：藍(lán)寶石、Ga2O3 等

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話(huà)：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說(shuō)明：
驗(yàn)證碼：

請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫(xiě)阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：日本toe微型滾筒測(cè)量裝置LMG
下一篇：maruto實(shí)驗(yàn)金屬材料小型切割機(jī)MC-112

ceramicforum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀CS-1

產(chǎn)品特征

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話(huà)：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說(shuō)明：

驗(yàn)證碼：